汉芯事件（Hanxin events）是指上海交通大学陈进教授发明“汉芯一号”造假事件。陈进团队研制的汉芯1号于2003年2月正式发布，并经专家组鉴定认为达到国际先进水平。后经调查，“汉芯一号”是用国外买回的芯片将表面原有标志用砂纸磨掉，然后加上“汉芯”标志“研制”而成。
