导读：芯片由集成电路经过设计、制造、封装等一系列操作后形成，一般来说，集成电路更着重电路的设计和布局布线，而芯片更看重电路的集成、生产和封装这三大环节。但在日常生活中，“集成电路”和“芯片”两者常被当作同一概念使用。
WAT测试，也叫PCM，对Wafer 划片槽测试键的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，例如CMOS的电容，电阻， Contact，Metal Line 等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用Probe Card扎在Test Key的Metal Pad上，Probe Card另一端接在WAT测试机台上，由WAT Recipe自动控制测试位置和内容，测完某条Test Key后，Probe Card会自动移到下一条Test Key，直到整片Wafer测试完成。
思为无线LoRa127X-C1系列无线模块是采用Semtech公司SX127X为主芯片，该模块采用了LoRa扩频调制跳频技术高效的接收灵敏度和超强的抗干扰性能，其通信距离，接收灵敏度都远超现在的FSK、GFSK调制，且多个传输的信号占用同一个信道而不受影响，具有超强的抗干扰性。
