人工智能芯片包括图形处理单元(GPU)、现场可编程门阵列(FPGA)和专门用于人工智能的特定应用集成电路(ASIC)。像中央处理器(CPU)这样的通用芯片也可以用于一些更简单的人工智能任务，但是随着人工智能的发展，CPU的用处越来越小。
WAT测试，也叫PCM，对Wafer 划片槽测试键的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，例如CMOS的电容，电阻， Contact，Metal Line 等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用Probe Card扎在Test Key的Metal Pad上，Probe Card另一端接在WAT测试机台上，由WAT Recipe自动控制测试位置和内容，测完某条Test Key后，Probe Card会自动移到下一条Test Key，直到整片Wafer测试完成。
